特許

J-GLOBAL ID：200903004922296759

X線検査装置

発明者： 藤井 正司 ,  宇山 喜一郎
出願人/特許権者： 東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 三好 秀和 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-341669
公開番号（公開出願番号）：特開平10-185842
出願日： 1996年12月20日
公開日（公表日）： 1998年07月14日
要約：

【要約】【課題】 人力で持ち運びが可能であり、建造物等の移動困難な対象物の内部を、片側からのみで検査可能なX線検査装置を提供する。【解決手段】 X線発生手段とX線ビーム走査手段と散乱X線を検出するX線検出手段とを一体構成してなる測定ユニットYUと、X線検出手段の出力データを収集するデータ収集手段と、散乱X線画像を作成する画像化手段とを備えた。

請求項（抜粋）：

X線発生手段と、該X線発生手段により発生されたX線ビームを走査するX線ビーム走査手段と、該X線ビーム走査手段により走査されたX線ビームが検査対象物に当たって生ずる散乱X線を検出するX線検出手段と、前記X線発生手段とX線ビーム走査手段とX線検出手段とを一体に構成してなる測定ユニットと、前記検査対象物と測定ユニットの相対移動に伴う前記X線検出手段の出力データを収集するデータ収集手段と、該データ収集手段が収集したデータに基づき検査対象物の散乱X線画像を作成する画像化手段とを備えたことを特徴とするX線検査装置。