特許
J-GLOBAL ID：200903004941400834

検査データ管理システム、検査データ入力端末および検査データ管理装置

発明者：
青木 昌隆

青木 昌隆 について

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風間 英明

風間 英明 について

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山下 司平

山下 司平 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (2件)： 磯野 道造 ,  多田 悦夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-164680
公開番号（公開出願番号）：特開2006-338552
出願日： 2005年06月03日
公開日（公表日）： 2006年12月14日
要約：
【課題】 検査データ1つ1つについてそれを測定した計測器を関連付けた検査データDBを提供するとともに、誤って未校正の計測器が使用されることを防止する。【解決手段】 検査データ入力端末1は、計測器4のICタグ44から計測器4の計測器識別情報を読み取り、また、計測部41から製品5を検査した検査データを読み取り、その検査データと計測器識別情報とを検査データ管理装置2へ送信する。検査データ管理装置2は、検査データと計測器識別情報とを受信し、互いに関連付けて検査データDB22に蓄積する。また、検査データ入力端末1は、計測器識別情報に基づき検査データ管理装置2にある校正計測器DB24を参照して、計測器4の校正有効期限情報を取得し、その有効性を判定する。その結果、校正有効期限情報が切れていた場合には、計測器4の校正有効期限切れの警告を出力し、前記検査データの入力を無効化するようにした。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
自らの計測器識別情報を保持し、製品を測定して検査データを取得する計測器と、 前記計測器によって測定された製品の検査データを入力する検査データ入力端末と、 前記検査データ入力端末によって入力された検査データを蓄積する検査データDBおよび前記計測器の校正実施結果の情報を蓄積した校正計測器DBを備えた検査データ管理装置と を含んで構成された検査データ管理システムであって、 前記検査データ入力端末は、 前記計測器が保持する計測器識別情報を読み取り、 前記計測器が取得した製品の検査データを入力し、 前記入力した製品の検査データと前記読み取った計測器識別情報とを前記検査データ管理装置へ送信し、 前記検査データ管理装置は、 前記検査データ入力端末が送信した前記製品の検査データと前記計測器識別情報とを受信し、 前記製品の検査データと前記計測器識別情報とを関連付けて前記検査データDBに蓄積するようにしたこと を特徴とする検査データ管理システム。
IPC (4件)：
G06Q 50/00 ,  G01D 3/00 ,  G06K 17/00 ,  G08C 25/00
FI (5件)：
G06F17/60 106 ,  G01D3/00 C ,  G06K17/00 F ,  G06K17/00 L ,  G08C25/00 F
Fターム (28件)：
2F073AA01 ,  2F073AA02 ,  2F073AA40 ,  2F073AB01 ,  2F073BB01 ,  2F073BB04 ,  2F073BB07 ,  2F073BC01 ,  2F073BC02 ,  2F073CC08 ,  2F073CC12 ,  2F073CC14 ,  2F073DD07 ,  2F073EE12 ,  2F073FG01 ,  2F073FG02 ,  2F073GG01 ,  2F073GG06 ,  2F073GG08 ,  2F075AA06 ,  2F075AA10 ,  2F075EE14 ,  2F075EE18 ,  2F075FF02 ,  2F075FF07 ,  2F075FF10 ,  5B058CA17 ,  5B058YA13
引用特許：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (4件)
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