特許
J-GLOBAL ID：200903004963776510
積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 全啓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-018118
公開番号（公開出願番号）：特開2003-217990
出願日： 2002年01月28日
公開日（公表日）： 2003年07月31日
要約：
【要約】【課題】 積層枚数が比較的多い積層セラミックコンデンサの良品と不良品との判別の誤りが少ない、積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法を提供する。【解決手段】 積層セラミックコンデンサは、ロットごとに、サンプリングされ、絶縁抵抗が測定される。測定した絶縁抵抗のロットごとの平均値から、積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗の良否を判定するしきい値が、ロットごとに決定される。ロットごとに決定したしきい値から、積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗の良否が、ロットごとに判定される。
請求項１：
絶縁抵抗の大小によって積層セラミックコンデンサの良否を判定する積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法であって、積層セラミックコンデンサをロットごとにサンプリングする工程、前記サンプリングしたセラミックコンデンサの絶縁抵抗を測定する工程、および前記測定した絶縁抵抗から前記積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗の良否を判定するしきい値を前記ロットごとに決定する工程、および前記ロットごとに決定したしきい値から前記積層セラミックコンデンサの絶縁抵抗の良否を前記ロットごとに判定する工程を含む、積層セラミックコンデンサのスクリーニング方法。
Fターム (6件)：
5E082AB03
, 5E082BC40
, 5E082FG26
, 5E082MM19
, 5E082MM35
, 5E082MM38
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (1件)
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