特許
J-GLOBAL ID：200903005053303150
渦流探傷法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
細江 利昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-029787
公開番号（公開出願番号）：特開2000-227422
出願日： 1999年02月08日
公開日（公表日）： 2000年08月15日
要約：
【要約】【課題】 リフトオフの変動や雑音磁束の影響を受けにくく、欠陥検出性能の高い渦流探傷方法を提供する。【解決手段】 渦流プローブ5aを励磁する交流電源6aの周波数f1は低く、渦流プローブ5bを励磁する交流電源6bの周波数f2は高くしておく。これにより、渦流プローブ5aからは、薄鋼板1の表面近傍から発生するノイズと共に、内部欠陥8によって発生する信号が検出される。それに対し、渦流プローブ5bからは、内部欠陥8によって発生する信号は検出されないか検出されても小さく、主として薄鋼板1の表面近傍から発生するノイズが検出される。よって、これらの信号同士を演算することにより、ノイズ成分を除去し、S/N比を上げることができる。
請求項（抜粋）：
金属被検体に交流磁界を印加し、それによって発生する渦電流に起因する磁場の、前記金属被検体の内部に存在する欠陥による変動を、前記金属被検体の表面近傍に配置された磁気センサで検出することによって、欠陥を探傷する渦流探傷方法であって、異なる励磁周波数で測定を行い、その異なる条件での測定信号同士を演算し、その結果に基づいて欠陥信号の検出を行うことを特徴とする渦流探傷方法。
Fターム (12件)：
2G053AA11
, 2G053AB21
, 2G053BA15
, 2G053BB03
, 2G053BC02
, 2G053BC07
, 2G053CA03
, 2G053CB10
, 2G053CB24
, 2G053DA01
, 2G053DA06
, 2G053DB02
