特許

J-GLOBAL ID：200903005071546834

自動測定システム

発明者： 呑村 勝元
出願人/特許権者： 富士通株式会社
代理人 (1件)： 眞鍋 潔 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-173438
公開番号（公開出願番号）：特開2002-365099
出願日： 2001年06月08日
公開日（公表日）： 2002年12月18日
要約：

【要約】【課題】 各種の構成の被試験装置を複数の測定器を用いて測定する自動測定システムに関し、試験プログラムを作成することなく、被試験装置の自動測定を可能とする。【解決手段】 被試験装置1の試験,測定を行う複数の測定器2-1〜2-nと、これらの測定器2-1〜2-nを相互に接続する相互接続バス3とを含み、複数の測定器の中の少なくとも1台は、オペレータの測定器の操作順序を記憶する記憶部(図示を省略)を含む操作順序制御部4と、オペレータの測定操作内容を測定器対応に記憶する記憶部(図示を書略)を含む操作内容制御部5とを備え、操作順序制御部4は、記憶部に記憶された操作順序にそれぞれ対応する測定器に開始通知を行う手段を備えている。

請求項（抜粋）：

被試験装置の試験,測定を行う複数の測定器と、該複数の測定器を相互に接続する相互接続バスとを含み、前記複数の測定器の中の少なくとも1台は、オペレータの測定器の操作順序を記憶する記憶部を含む操作順序制御部と、前記オペレータの測定操作内容を測定器対応に記憶する記憶部を含む操作内容制御部とを備え、前記操作順序制御部は、前記記憶部に記憶された操作順序にそれぞれ対応する測定器に開始通知を行う手段を備えたことを特徴とする自動測定システム。

IPC (2件)：

G01D 21/00 ,  G05B 23/02

FI (2件)：

G01D 21/00 M ,  G05B 23/02 T

Fターム (8件)：

2F076BA01 ,  2F076BE04 ,  2F076BE06 ,  2F076BE10 ,  5H223AA15 ,  5H223DD03 ,  5H223DD09 ,  5H223EE05