特許
J-GLOBAL ID:200903005081092335

分散されていない不純物のための分散系を監視する方法およびこの方法を実施するための装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 佐藤 一雄 (外3名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-530487
公開番号(公開出願番号):特表2000-505552
出願日: 1997年02月21日
公開日(公表日): 2000年05月09日
要約:
【要約】本発明は、分散系を、最終生成物内に前記系を処理する前に、分散されていない不純物(16)のために監視するための方法に関している。前記処理の間に、分散系の一部が処理の前に押出されて細長部(7)を形成し、前記細長部内で不純物(16)が検出される。この目的のために、弱いX線が細長部(7)の小領域を通って細長部の平面に直角に連続的にあるいは階段状に放射される。それらが通る細長部の領域から出るX線が領域内でその後検出される。検出されたX線により、不純物(16)のタイプ、数、大きさ、形態および/または分布が決定される。それは特に、細長部(7)を通過するX線の結果として、細長部の内部とその表面上との両方の不純物が検出されるという利点がある。もし不純物(16)が予め設定されたしきい値を越えたら、分散系はさらに処理されない。
請求項(抜粋):
最終生成物内に用いられ得る分散系を、分散されていない不純物(16)のために監視する方法であって、 分散系の一部が、系がさらに使用される前に細長部(7)として押出され、この細長部(7)内で不純物(16)が検出される方法であり、 弱いX線が細長部(7)の領域を通って細長部の平面を横切るように放射され連続的にあるいは階段状に記録され、 細長部(7)の放射が通る領域を通過する放射が領域内で検出され、 検出された放射から不純物(16)のタイプ、数、大きさ、形態および/または分布が決定される、ことを特徴とする方法。
IPC (4件):
G01N 23/12 ,  G01N 23/04 ,  G01N 23/14 ,  C08J 5/18
FI (4件):
G01N 23/12 ,  G01N 23/04 ,  G01N 23/14 ,  C08J 5/18

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