特許
J-GLOBAL ID:200903005199650952

撮像装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大菅 義之
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-232915
公開番号(公開出願番号):特開2006-054526
出願日: 2004年08月10日
公開日(公表日): 2006年02月23日
要約:
【課題】画像の破綻を防止し、かつ低輝度の被写体に対しても測光または焦点検出を適正に行えるようにすることである。【解決手段】CCDセンサの複数の画素を複数の領域に分割する(図2,S13)。各領域内の画素を加算して平均値を算出し(S14)、領域毎の平均値と所定値Thとを比較し(S15)、さらに、平均値が所定値Th以上の領域数を計数する(S16)。画素の平均値が所定値Th以上の領域の数が所定数Cth以上あるときには、画素加算を行わな画素の値に基づいて測光及び(又は)焦点検出を行う(S18)。画素の平均値が所定値Th以上の領域の数が所定数Cth未満のときには、CCDセンサ15の近傍の複数の画素の電荷を加算させる駆動信号を出力し、画素加算により得られる値に基づいて測光及び焦点検出を行う。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
撮像手段と、 前記撮像手段の複数の画素を複数の領域に分割し、分割した領域毎に領域内の画素の平均値を算出する演算手段と、 前記演算手段により算出される平均値が所定値以上の領域が所定数以上あるときには、画素加算を行わない画素の値に基づいて測光または焦点検出を行い、前記演算手段により算出される平均値が所定値以上の領域が所定数未満のときには、前記撮像手段の近傍の複数の画素を加算して得られる値に基づいて測光または焦点検出を行う測光または焦点検出手段とを備える撮像装置。
IPC (6件):
H04N 5/235 ,  G03B 7/28 ,  H04N 5/232 ,  G02B 7/28 ,  G02B 7/36 ,  G03B 13/36
FI (6件):
H04N5/235 ,  G03B7/28 ,  H04N5/232 H ,  G02B7/11 N ,  G02B7/11 D ,  G03B3/00 A
Fターム (28件):
2H002DB02 ,  2H002DB14 ,  2H002DB15 ,  2H002DB19 ,  2H002DB20 ,  2H002DB24 ,  2H002DB25 ,  2H002GA54 ,  2H002HA04 ,  2H002HA07 ,  2H002JA07 ,  2H011BA31 ,  2H011BB03 ,  2H051BA47 ,  2H051DA28 ,  2H051DB01 ,  5C122DA04 ,  5C122EA59 ,  5C122FC10 ,  5C122FD01 ,  5C122FD05 ,  5C122FD13 ,  5C122FF01 ,  5C122FF23 ,  5C122FF26 ,  5C122HA86 ,  5C122HA88 ,  5C122HB01
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 撮像装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-308208   出願人:キヤノン株式会社

前のページに戻る