特許
J-GLOBAL ID：200903005208019071
測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 伸司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-010582
公開番号（公開出願番号）：特開2009-174860
出願日： 2008年01月21日
公開日（公表日）： 2009年08月06日
要約：
【課題】測定処理に要する時間を十分に短縮し得る測定装置を提供する。【解決手段】第1の測定レンジから第Nの測定レンジまでの複数種類の測定レンジのうちの指定された測定レンジで測定対象体についての絶縁抵抗値(電気的パラメータ)を測定する測定部と、絶縁抵抗値が測定されるまで第1の測定レンジから第Nの測定レンジに向かって測定レンジを順に指定して絶縁抵抗値を測定させる測定処理10を実行する制御部とを備えた測定装置であって、制御部は、第Mの測定レンジが選択されたときに(第Mの測定レンジを特定可能な基準値が設定されているときに:ステップ11)、測定処理時において第Mの測定レンジから第Nの測定レンジに向かって測定レンジを順に指定する(ステップ12,17)。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
第1の測定レンジから第Nの測定レンジ(Nは、3以上の自然数)までの複数種類の測定レンジのうちの指定された当該測定レンジで測定対象体についての電気的パラメータを測定する測定部と、前記電気的パラメータが測定されるまで前記第1の測定レンジから前記第Nの測定レンジに向かって当該測定レンジを順に指定して当該電気的パラメータを測定させる測定処理を実行する制御部とを備えた測定装置であって、
前記制御部は、第Mの測定レンジ(Mは、2以上N以下の自然数)が選択されたときに、前記測定処理時において当該第Mの測定レンジから前記第Nの測定レンジに向かって当該測定レンジを順に指定する測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
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