特許

J-GLOBAL ID：200903005217411189

画像処理装置および画像処理方法

発明者： 三上 文夫
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 谷 義一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-089653
公開番号（公開出願番号）：特開2001-277677
出願日： 2000年03月28日
公開日（公表日）： 2001年10月09日
要約：

【要約】【課題】 画素の欠落位置に対応した印字ヘッドの不良素子を簡単に把握すること。【解決手段】 印字ヘッド422の全印字素子領域に対応したヘッド検査用パターンを作成し、該検査用パターンを印字ヘッド422の全印字素子に渡って印字し、印字されたヘッド検査用パターン100を所定の解像度を維持した状態で読み取り、読み取られた印字パターン結果から印字素子に対応した画素の欠落位置を検出する。

請求項（抜粋）：

画素単位で印字が可能な印字素子を有する印字ヘッドを用いて、該印字ヘッドの印字出力状態を検知可能な装置であって、副走査方向へ1画素幅で複数画素分連続した幅を有し、主走査方向へ各画素が隣接しない幅を有する領域を1ブロックとし、該ブロックを前記印字ヘッドの全印字素子に対応して構成したヘッド検査用パターンと、該ヘッド検査用パターンを、前記印字ヘッドの全印字素子に渡って印字する印字手段と、前記印字されたヘッド検査用パターンを、所定の解像度を維持した状態で読み取るパターン読取手段と、前記読み取られた印字パターンの結果から、前記印字素子に対応した画素の欠落位置を検出する検出手段とを具えたことを特徴とする画像処理装置。

IPC (7件)：

B41J 29/46 ,  B41J 2/01 ,  B41J 2/44 ,  B41J 2/45 ,  B41J 2/455 ,  H04N 1/23 101 ,  H04N 1/23 103

FI (6件)：

B41J 29/46 B ,  B41J 29/46 D ,  H04N 1/23 101 Z ,  H04N 1/23 103 Z ,  B41J 3/04 101 Z ,  B41J 3/21 L

Fターム (32件)：

2C056EA06 ,  2C056EB27 ,  2C056EB36 ,  2C056EC26 ,  2C056EC75 ,  2C061AQ05 ,  2C061KK18 ,  2C061KK23 ,  2C061KK25 ,  2C061KK28 ,  2C061KK32 ,  2C061KK33 ,  2C061KK35 ,  2C162AE04 ,  2C162AE47 ,  2C162AF01 ,  2C162AF06 ,  2C162AF09 ,  2C162AF82 ,  2C162AF92 ,  2C162FA02 ,  2C162FA17 ,  5C074AA09 ,  5C074BB02 ,  5C074BB16 ,  5C074CC26 ,  5C074DD15 ,  5C074EE04 ,  5C074EE08 ,  5C074EE20 ,  5C074HH02 ,  5C074HH04