偏光測定方法と偏光量監視方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：岡部正夫 (外12名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-254945
公開番号（公開出願番号）：特開2002-188960
出願日： 2001年08月24日
公開日（公表日）： 2002年07月05日
要約：

【要約】【課題】偏光の測定方法およびその装置を改善することである。【解決手段】本発明の偏光の測定方法は、a 偏光状態で特徴づけられる光学信号250を偏光制御器202に入力するステップと、b 前記偏光制御器202からの光学信号を偏光化器204に入力するステップと、c 波長範囲により特徴づけられる複数のスペクトラム成分を含む分散光学信号を生成するために、前記偏光化器からの光学信号を波長分散素子206に入力するステップと、d複数のスペクトラム成分を検出するために、前記分散光学信号を光検知器208に入力するステップと、e 前記偏光制御器202を複数の位置に設定するステップと、f 前記偏光制御器202の複数の各位置に対し、光検出器を用いて前記光学信号のパワーを測定するステップと、g 前記eステップで測定された光学信号のパワーを解析することにより前記光学信号の偏光状態を得るステップとを有することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

(a) 偏光状態で特徴づけられる光学信号(250)を偏光制御器(202)に入力するステップと、(b) 前記偏光制御器(202)からの光学信号を偏光化器(204)に入力するステップと、(c) 波長範囲により特徴づけられる複数のスペクトラム成分を含む分散光学信号を生成するために、前記偏光化器からの光学信号を波長分散素子(206)に入力するステップと、(d) 複数のスペクトラム成分を検出するために、前記分散光学信号を光検知器(208)に入力するステップと、(e) 前記偏光制御器(202)を複数の位置に設定するステップと、(f) 前記偏光制御器(202)の複数の各位置に対し、光検出器を用いて前記光学信号のパワーを測定するステップと、(g) 前記(e)ステップで測定された光学信号のパワーを解析することにより前記光学信号の偏光状態を得るステップとを有することを特徴とする偏光測定方法。

IPC (6件)：

G01J 3/447 , G01J 4/04 , G02B 5/18 , G02B 5/30 , H04B 10/02 , H04B 10/18

FI (5件)：

G01J 3/447 , G01J 4/04 D , G02B 5/18 , G02B 5/30 , H04B 9/00 M

Fターム (28件)：

2G020AA03 , 2G020BA20 , 2G020CA15 , 2G020CB42 , 2G020CC02 , 2G020CC13 , 2G020CC23 , 2G020CC24 , 2G020CC63 , 2G020CD06 , 2G020CD15 , 2G020CD24 , 2G020CD34 , 2G020CD36 , 2G020CD37 , 2H049AA03 , 2H049AA58 , 2H049BA05 , 2H049BA06 , 2H049BA07 , 2H049BB03 , 2H049BC23 , 5K002BA02 , 5K002BA06 , 5K002CA01 , 5K002DA02 , 5K002EA05 , 5K002FA01

引用特許：

審査官引用 (1件)

複屈折材の光学的特性の生体内測定システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-236061 出願人：ハイデルベルクエンジニアリングオプテイシエメッスシステメゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング

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