特許

J-GLOBAL ID：200903005266115250

溶接品質監視装置

発明者： 高▲桑▼ 貞之 ,  後藤 康宏
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 小鍜治 明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-250552
公開番号（公開出願番号）：特開平8-112676
出願日： 1994年10月17日
公開日（公表日）： 1996年05月07日
要約：

【要約】【目的】 溶接条件の再設定や溶接チップの交換補修等のメンテナンス実施時期を的確に知らせることができる溶接品質監視装置を提供することを目的とする。【構成】 ナゲット径比較部3にて推定形成時刻を算出し、これを記憶部1にて複数記憶し、平均値算出部2にて推定形成時刻の平均値を算出する。これを形成時刻設定部6の上限設定部4に設定された上限形成時刻と比較して、平均値が上限形成時刻よりも短い場合に、出力部26にメンテナンス時期であることを知らせる。

請求項（抜粋）：

電極間に印加される溶接電流と前記電極間の電圧とを測定する検出部と、前記検出部による検出値を用いて熱伝導モデルに基づいて温度分布及び通電径を数値解析すると共に、生成していくナゲット径を推定する演算部と、予めナゲット径の設定値が入力されるナゲット径設定部と、前記生成していくナゲット径と前記予め設定されたナゲット径の設定値とを比較し、前記生成していくナゲット径が前記予め設定されたナゲット径の設定値を越えた時刻を算出するナゲット径比較部と、予め形成時刻の設定値が入力される形成時刻設定部と、前記生成していくナゲット径が前記予め設定されたナゲット径の設定値を超えた時刻と前記予め設定された形成時刻の設定値とを比較する形成時刻比較部と、前記形成時刻比較部の比較結果を出力する出力部とを備え、少なくとも通常の溶接における最短の形成時刻よりも短い時刻を設定する設定部を前記形成時刻設定部に備えた溶接品質監視装置。

IPC (3件)：

B23K 11/24 338 ,  B23K 11/25 ,  G01N 27/20

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特許第3119775号
  
• 特開平4-178275
  
• 特開昭62-240180