特許
J-GLOBAL ID：200903005294594490
粒子測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西澤 利夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-203053
公開番号（公開出願番号）：特開平5-045274
出願日： 1991年08月13日
公開日（公表日）： 1993年02月23日
要約：
【要約】【構成】 複数の光センサを直接に、または光導体ファイバによって間接的に直列配置したセンサ部を粒子の飛散方向に対して垂直に少なくとも2組平行配設し、これらセンサ部をリアルタイム信号処理装置と連結してなる粒子測定装置。【効果】 粒子群をジェット噴流により高速に飛散させ、一次粒子化させた後、この影像をリアルタイム画像処理システムにより取り込み処理行なうことにより、粒子群の形状および粒度分布を高効率、高精度で把握することができる。
請求項（抜粋）：
複数の光センサを直接に、または光導体ファイバによって間接的に直列配置したセンサ部を粒子の飛散方向に対して垂直に少なくとも2組平行配設し、これらセンサ部をリアルタイム信号処理装置と連結してなることを特徴とする粒子測定装置。
引用特許：
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