特許
J-GLOBAL ID：200903005355302714
テストシステム
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-143494
公開番号（公開出願番号）：特開2007-315828
出願日： 2006年05月24日
公開日（公表日）： 2007年12月06日
要約：
【課題】単体測定器を用いて、信頼性が高い同期制御を行い、汎用性を高めるテストシステムを実現することを目的にする。【解決手段】本発明は、被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。本システムは、被試験対象を試験し、ネットワークに接続すると共に、このネットワークと分離したTCP/IP通信を行い、トリガ信号を出力するICテスタと、このICテスタとネットワークと分離したTCP/IP通信を行うと共に、ICテスタからトリガ信号を入力し、少なくとも被試験対象の測定を行う単体測定器とを備えたことを特徴とするシステムである。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被試験対象を試験するテストシステムにおいて、
前記被試験対象を試験し、ネットワークに接続すると共に、このネットワークと分離したTCP/IP通信を行い、トリガ信号を出力するICテスタと、
このICテスタと前記ネットワークと分離したTCP/IP通信を行うと共に、ICテスタからトリガ信号を入力し、少なくとも前記被試験対象の測定を行う単体測定器と
を備えたことを特徴とするテストシステム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (3件)：
2G132AE23
, 2G132AL06
, 2G132AL29
出願人引用 (1件)
審査官引用 (8件)
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