CCD試験装置用タイミング校正治具

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-259837
公開番号（公開出願番号）：特開平11-101845
出願日： 1997年09月25日
公開日（公表日）： 1999年04月13日
要約：

【要約】【課題】 CCD試験装置で、CCD駆動クロックパルスのタイミング校正を、DUTの駆動条件と同一にして行うことができるタイミング校正治具。【解決手段】 DUT15の本試験前に、パターン発生器22からの複数のCCD駆動クロックパルスをそれぞれの可変遅延器23を介して受信し、治具ボード11のマルチプレクサ36で選択し、上記CCD駆動クロックパルスを上記可変遅延器23で調整してCCD駆動クロックパルスのタイミングを校正するCCD試験装置用のタイミング校正治具において、マルチプレクサ36の入力端子に入力する駆動クロックパルスに相当するDUT駆動端子に並列に接続したDUT15を具備した治具ボード11である。

請求項（抜粋）：

DUT(15)の本試験前に、パターン発生器(22)からの複数のCCD駆動クロックパルスをそれぞれの可変遅延器(23)を介して受信し、治具ボード(11)のマルチプレクサ(36)で選択し、上記CCD駆動クロックパルスを上記可変遅延器(23)で調整してCCD駆動クロックパルスのタイミングを校正するCCD試験装置用のタイミング校正治具において、マルチプレクサ(36)の入力端子に入力する駆動クロックパルスに相当するDUT駆動端子に並列に接続したDUT(15)を具備した治具ボード(11)であることを特徴とするCCD試験装置用タイミング校正治具。

IPC (3件)：

G01R 31/26 , G01R 31/28 , H04N 17/00

FI (3件)：

G01R 31/26 E , H04N 17/00 K , G01R 31/28 P

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