特許

J-GLOBAL ID：200903005366429260

光ファイバ変位計測装置

発明者： 山浦 剛俊 ,  紀 博徳 ,  井上 好章 ,  開 登喜雄
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (1件)： 光石 俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-225082
公開番号（公開出願番号）：特開2001-050718
出願日： 1999年08月09日
公開日（公表日）： 2001年02月23日
要約：

【要約】【課題】 光ファイバの折り返し施工を採用した光ファイバ変位計測装置の精度向上を図る。【解決手段】 連続する一本の光ファイバ3を計測対象物の計測箇所に複数回折り返して複数の折返し部3aとセンサ部3bとが形成されるよう配置し、前記光ファイバ3のブリルアンスペクトルを測定することで前記計測箇所の変位の進行状況を計測する信号処理装置4を備えた光ファイバ変位計測装置において、前記信号処理装置4は、折返し部3aのブリルアンスペクトルとセンサ部3bのブリルアンスペクトルを周波数として計測器が分離してしまう程度に差を設けたブリルアンスペクトルを測定するようにし、これら折返し部3aのブリルアンスペクトルとセンサ部3bのブリルアンスペクトルの中、折返し部3aのブリルアンスペクトルを無視し、センサ部3bのブリルアンスペクトルのみからその中心周波数を求める処理機能を有する。

請求項（抜粋）：

連続する一本の光ファイバを計測対象物の計測箇所に複数回折り返して複数の折返し部とセンサ部とが形成されるよう配置し、前記光ファイバのブリルアンスペクトルを測定することで前記計測箇所の変位を計測する信号処理装置を備えた光ファイバ変位計測装置において、前記信号処理装置は、測定されたブリルアンスペクトルの前記折返し部のブリルアンスペクトルとセンサ部のブリルアンスペクトルの中、折返し部のブリルアンスペクトルを無視し、センサ部のブリルアンスペクトルのみからその中心周波数を求める処理機能を有することを特徴とする光ファイバ変位計測装置。

IPC (2件)：

G01B 11/16 ,  G01M 11/00

FI (2件)：

G01B 11/16 Z ,  G01M 11/00 U

Fターム (15件)：

2F065AA06 ,  2F065AA65 ,  2F065CC00 ,  2F065CC07 ,  2F065CC40 ,  2F065FF00 ,  2F065FF12 ,  2F065FF42 ,  2F065LL02 ,  2F065LL57 ,  2F065PP01 ,  2F065PP22 ,  2F065QQ39 ,  2G086CC02 ,  2G086DD05

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 斜面異常観測システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-149139   出願人：住友電気工業株式会社