特許

J-GLOBAL ID：200903005387285358

測定間隔自動制御装置

発明者： 神部 広一 ,  山下 善之 ,  鈴木 睦
出願人/特許権者： 神部 広一 ,  山下 善之 ,  鈴木 睦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-306974
公開番号（公開出願番号）：特開平8-227312
出願日： 1993年11月02日
公開日（公表日）： 1996年09月03日
要約：

【要約】【目的】 この発明は、ベースとなるサンプリング値制御系に付加されることによって、ベース制御系の変数測定間隔を制御対象の状態に合わせて自動的に制御し、効率の良いサンプリング値制御を可能にするための測定間隔自動制御装置を提供することを主要な特徴とする。【構成】 測定手段2によってモニターされる変数と設定目標値との偏差(e値)、およびこの偏差(e値)の1サンプリング前の時点からの変化(c値)に基づいて制御手段3が制御パラメーターであるu値を決定し、このu値によって操作手段4の操作量を制御する制御系において、本発明の測定間隔自動制御装置1は上記e値およびc値に基づいて最適な測定間隔(ts値)を決定し、これによって、ベース制御系の測定手段2が次の測定を行う時期を制御する。

請求項（抜粋）：

サンプリング値制御系において、後述の推論手段によって与えられる測定間隔(ts値)に従って測定された変数に基づいて、最適な測定間隔(ts値)を推論するファジイ推論手段を備えた測定間隔自動制御装置。

IPC (4件)：

G05B 21/02 ,  A61B 5/022 ,  A61M 16/01 ,  G05B 13/02

FI (4件)：

G05B 21/02 A ,  A61M 16/01 G ,  G05B 13/02 N ,  A61B 5/02 337 Z