特許

J-GLOBAL ID：200903005393709666

特性値の推定方法、装置、発光装置、電子機器、および発光装置の駆動方法

発明者： 小林 英和
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  藤綱 英吉 ,  須澤 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-176029
公開番号（公開出願番号）：特開2006-349504
出願日： 2005年06月16日
公開日（公表日）： 2006年12月28日
要約：

【課題】 時間とともに変化する特性値を推定する方法を提供すること、および駆動電流の印加時間から輝度の減衰を推定するとともに、当該推定に基づいて輝度を補正することが可能な発光装置および発光装置の駆動方法を提供すること。【解決手段】 発光装置の輝度減衰補正機構5に含まれる構成要素が以下の機能を有する。積算部30は、駆動回路60のオン電流印加時間tapを積算する。計算部40は、電流印加時間tapと式L=L0×(D/100)^((tap/TD)^α)とから推定の輝度Lを計算する。駆動電流制御回路50は、輝度Lに基づいて駆動電流をL0/L倍に補正し、駆動回路60は、補正された駆動電流を有機EL素子70に印加する。これにより、有機EL素子70は劣化による輝度減衰なく発光する。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

時間tに依存する特性値Lを、下記式によって推定することを特徴とする特性値の推定方法。 L=L0×(D/100)^((t/TD)^α) ただし、L0は時間t=0における初期特性値、TDは前記特性値Lが前記初期特性値L0のD%になるまでに要する時間、αは定数である。

IPC (7件)：

G01N 33/00 ,  G09G 3/30 ,  H01L 51/50 ,  G09G 3/20 ,  B41J 2/44 ,  B41J 2/45 ,  B41J 2/455

FI (8件)：

G01N33/00 A ,  G09G3/30 K ,  H05B33/14 A ,  G09G3/20 642P ,  G09G3/20 670J ,  G09G3/20 641D ,  G09G3/20 641P ,  B41J3/21 L

Fターム (25件)：

2C162AE10 ,  2C162AE28 ,  2C162AE47 ,  2C162AF39 ,  2C162AF70 ,  2C162AF92 ,  2C162FA04 ,  2C162FA16 ,  3K007AB11 ,  3K007DB03 ,  3K007GA00 ,  5C080AA05 ,  5C080AA06 ,  5C080AA07 ,  5C080AA18 ,  5C080BB05 ,  5C080DD04 ,  5C080DD29 ,  5C080EE29 ,  5C080FF12 ,  5C080GG12 ,  5C080KK01 ,  5C080KK07 ,  5C080KK47 ,  5C080KK49

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 電気光学装置、その駆動方法、及び電子機器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-022031   出願人：セイコーエプソン株式会社

審査官引用 (2件)

• ディスプレィ装置を校正して及び時間にわたってそれらの効率で自動的に減失を補償するための方法及び器具
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2001-562472   出願人：サーノフコーポレイション
• 表示装置及びそれを用いた電子機器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-148088   出願人：株式会社半導体エネルギー研究所