特許
J-GLOBAL ID:200903005416829370

無侵襲的測定装置及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 田澤 博昭 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-271914
公開番号(公開出願番号):特開平10-179584
出願日: 1997年09月19日
公開日(公表日): 1998年07月07日
要約:
【要約】【課題】 超音波パルスを用いて、対象物質以外の組織等からの光学ジクナルの影響を少なくする、対象物質の無侵襲的測定方法及び装置を提供する。【解決手段】 超音波送出機10と、超音波パルスにより変調された対象領域4の後方散乱光学放射線の測定器8を利用する、体2内の選択領域4の無侵襲的測定装置及び方法。対象領域4における超音波パルスの振動を制御するために、2以上の超音波トランスジューサを使用してもよい。
請求項(抜粋):
超音波送出機と、電磁放射線放射機と、電磁放射線検出機とを有し、これら全ては測定対象の物質のある領域の体面に配置されており、前記超音波送出機は、所定の持続時間の超音波パルスを前記体の中に向けて送り、前記電磁放射線放射機は前記領域に放射線を放射し、前記電磁放射線検出機は後方散乱放射線を検出し、さらに、前記後方散乱放射線を分析して、前記領域から散乱された光を区別し、前記領域の物質の特性を測定する分析手段とを有する、物質の無侵襲的測定装置。
IPC (2件):
A61B 8/00 ,  A61B 10/00
FI (2件):
A61B 8/00 ,  A61B 10/00 E
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特開平4-329936
  • 生体計測装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平6-038107   出願人:株式会社日立製作所
  • 特開平4-329936

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