特許

J-GLOBAL ID：200903005419229340

波長計測装置

発明者： 平山 紀友 ,  佐野 安一
出願人/特許権者： 富士電機株式会社
代理人 (1件)： 森田 雄一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-309325
公開番号（公開出願番号）：特開2002-116092
出願日： 2000年10月10日
公開日（公表日）： 2002年04月19日
要約：

【要約】【課題】 波長計測信号のクロストークを低減して検出精度を向上させる。【解決手段】 測定光が入射される光ファイバに一以上のFBGが形成され、各FBGからの反射光の波長を検出して各FBGの位置における温度等の物理量を測定するための波長計測装置であって、各FBGからの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能なAWGに入射させるとともに、このAWGの複数の出力チャンネルにそれぞれ接続された受光素子を一対ごとに前記FBGに対応させ、一対の受光素子による出力信号の比の対数に基づいて前記反射光の波長を計測するようにした波長計測装置に関する。前記FBGとして、波長スペクトルにおけるサイドローブが少ないアポダイズドFBGを使用する。

請求項（抜粋）：

測定光が入射される光ファイバに一以上のブラッグ回折格子が形成され、各ブラッグ回折格子からの反射光の波長を検出して各ブラッグ回折格子の位置における物理量を測定するための波長計測装置であって、各ブラッグ回折格子からの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能なアレイ導波路格子に入射させるとともに、このアレイ導波路格子の複数の出力チャンネルにそれぞれ接続された受光素子を一対ごとに前記ブラッグ回折格子に対応させ、一対の受光素子による出力信号の比の対数に基づいて前記反射光の波長を計測するようにした波長計測装置において、前記ブラッグ回折格子として、波長スペクトルにおけるサイドローブが少ないアポダイズドFBGを使用したことを特徴とする波長計測装置。

IPC (3件)：

G01K 11/12 ,  G01J 9/00 ,  G01L 1/24

FI (3件)：

G01K 11/12 F ,  G01J 9/00 ,  G01L 1/24 A

Fターム (3件)：

2F056VF02 ,  2F056VF12 ,  2F056VF16

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 物理量測定システム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-352249   出願人：富士電機株式会社
• 屈折率格子の形成方法
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平9-521860   出願人：ブリティッシュ・テレコミュニケーションズ・パブリック・リミテッド・カンパニー
• 光学格子の波長およびバンド幅を調節する方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-096745   出願人：ジェイディーエスファイテルインコーポレイテッド