特許
J-GLOBAL ID：200903005426546270
磁気抵抗ヘッドの直流抵抗検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
梶山 佶是 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-215317
公開番号（公開出願番号）：特開平8-055314
出願日： 1994年08月17日
公開日（公表日）： 1996年02月27日
要約：
【要約】【目的】 磁気抵抗ヘッド(MRヘッド12)の直流抵抗Rの検査を自動化する。【構成】 MRヘッド12のインピーダンス特性などを検査するヘッドテスターに対して、高入力インピーダンスを有する電圧降下検出回路8を付加し、これと、ヘッドテスターの有する信号処理回路73およびCPU5とにより、各MRヘッド12の直流抵抗Rを順次に検査する。
請求項（抜粋）：
書込み用のコイルヘッドと読出し用の磁気抵抗ヘッドよりなる磁気ヘッドを検査対象とし、該コイルヘッドにより磁気ディスクに書込まれたテストデータを、所定値のバイアス電流が供給された磁気抵抗ヘッドにより読出し、該読出し信号を信号処理回路により処理して、該磁気抵抗ヘッドの電磁変換特性を測定し、この測定データをCPUにより処理して、該特性の良否を判定して検査するヘッドテスターにおいて、前記ヘッドテスターに対して、高入力インピーダンスを有する電圧降下検出回路よりなる直流抵抗測定回路を付加し、前記ヘッドテスターに磁気抵抗ヘッドを順次に装着してバイアス電流を供給し、該電圧降下検出回路により、該各磁気抵抗ヘッドの電圧降下を検出し、該検出信号を前記信号処理回路により処理して、該各磁気抵抗ヘッドの直流抵抗を順次に算出し、該各算出データを前記CPU入力して、これに設定された基準値にそれぞれ比較し、該直流抵抗の良否を順次に判定することを特徴とする、磁気抵抗ヘッドの直流抵抗検査方法。
IPC (2件)：
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