座標測定機の測定処理方法及びその装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-186615
公開番号（公開出願番号）：特開平8-029152
出願日： 1994年07月15日
公開日（公表日）： 1996年02月02日
要約：

【要約】【目的】処理能力の小さい計算機1台で安価に構成できるとともに、プローブ経路プログラム作成の指示が容易で作成時間が短く、さらに、測定結果をCAD図面に書込むことが容易な座標測定機の測定処理方法及びその装置を提供する。【構成】 CAD図面を用いてワークの1つの測定対象ごとにプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプローブ経路プログラムによって座標測定機でワークの1つの測定対象ごとに自動的に測定し、その測定結果をCAD図面の指定された位置に自動的に書き込む。

請求項（抜粋）：

被測定物のCAD図面を用いて座標測定機のプローブ経路プログラムを作成し、作成されたプローブ経路プログラムによって、座標測定機で被測定物を自動的に測定する座標測定機の測定処理方法において、被測定物の1つの測定対象ごとにプローブ経路プログラムを作成して、作成されたプローブ経路プログラムによって1つの測定対象ごとに自動的に測定し、その測定結果をCAD図面の指定された位置に自動的に書き込むことを特徴とする座標測定機の測定処理方法。

IPC (2件)：

G01B 21/20 101 , G06F 17/50

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開平1-163605
特開昭63-206608
特開平2-108910

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