特許
J-GLOBAL ID：200903005441009760
異常診断方法、状態判定装置、画像形成装置、管理装置及び管理システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
黒田 壽
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-035817
公開番号（公開出願番号）：特開2005-227518
出願日： 2004年02月12日
公開日（公表日）： 2005年08月25日
要約：
【課題】 画像形成装置を利用者に納品した後に画像形成装置の信頼性の高い異常診断を速やかに開始できる異常診断方法等を提供する。【解決手段】 画像形成装置の状態に関連した複数種類の情報の複数組のデータの取得を、状態判定対象の画像形成装置を含む同じ機種の複数の画像形成装置について、その複数の画像形成装置の製造後の稼働テスト中に行う。この複数の画像形成装置の稼働テスト中に取得した複数組のデータのすべてを含む基準データ群を、状態判定用の指標値を算出する指標値算出式を決定するための初期の基準データ群として用いる。また、納品された画像形成装置の使用開始後、基準データ群用のデータの取得及び追加を所定の更新タイミングで行うのが好ましい。このデータの取得及び追加は、画像形成装置の利用者による使用条件の影響を受けやすい情報について取得したデータからなる個別データ群についてのみ行ってもよい。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
電子機器の状態に関連した複数種類の情報のデータを予め複数組取得するステップと、該複数組のデータから構成される基準データ群に基づいて、電子機器の状態判定に用いる指標値を算出するための指標値算出式を決定するステップと、状態判定対象の電子機器について該複数種類の情報のデータを取得するステップと、該指標値算出式と該状態判定対象の電子機器について取得した該複数種類の情報のデータとに基づいて指標値を算出するステップと、該指標値と予め設定した基準値との比較結果に基づいて、該状態判定対象の電子機器の状態を判定し該電子機器の異常発生を診断するステップとを有する異常診断方法であって、
上記基準データ群を構成する複数組のデータの取得を、上記状態判定対象の電子機器と同じ機種の複数の電子機器について、該複数の電子機器の製造後の稼働テスト中に行い、
該複数の電子機器の稼働テスト中に取得した該複数組のデータのすべてを含む基準データ群を、上記指標値算出式を決定するための初期の基準データ群として用いることを特徴とする異常診断方法。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G03G21/00 510
, G03G21/00 396
, B41J29/46 Z
2C061AP01
, 2C061AP03
, 2C061AP04
, 2C061AQ06
, 2C061HV34
, 2H027DA01
, 2H027DA02
, 2H027DA09
, 2H027DA11
, 2H027DA20
, 2H027EJ08
, 2H027EJ13
, 2H027EJ15
, 2H027HA02
, 2H027HA12
, 2H027HA13
, 2H027HA15
, 2H027HB01
, 2H027HB17
