特許
J-GLOBAL ID:200903005442151056

仮想現実空間を利用した測定システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 蛭川 昌信 (外7名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-230101
公開番号(公開出願番号):特開平6-241754
出願日: 1992年08月28日
公開日(公表日): 1994年09月02日
要約:
【要約】【目的】 3次元物体の寸法を測定を現場から離れた位置で臨場感をもって簡便かつ正確に測定可能にする。【構成】 左右のレンズ系を所定周期で切り換える3次元カメラで実物体を撮影し、再生した画像を、3次元カメラの切り換え周期と同期させて左右のシャッタを切り換える液晶シャッタ付きメガネで観察するようにした仮想現実空間提示システムにおいて、仮想現実空間に提示された仮想物体の各箇所を指示することにより各箇所の位置座標を検出する3次元磁気デジタイザと、検出した位置座標データおよび撮影倍率が入力され、実物体の寸法を算出するデータ処理装置とを備えたことを特徴とする。
請求項(抜粋):
左右のレンズ系を所定周期で切り換える3次元カメラで実物体を撮影し、再生した画像を、3次元カメラの切り換え周期と同期させて左右のシャッタを切り換える液晶シャッタ付きメガネで観察するようにした仮想現実空間提示システムにおいて、仮想現実空間に提示された仮想物体の各箇所を指示することにより各箇所の位置座標を検出する3次元磁気デジタイザと、検出した位置座標データおよび撮影倍率が入力され、実物体の寸法を算出するデータ処理装置とを備えたことを特徴とする仮想現実空間を利用した測定システム。
IPC (3件):
G01B 11/24 ,  G01B 21/00 ,  G06F 15/62 350

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