特許
J-GLOBAL ID：200903005446771857
検査装置および方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
牛久 健司 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-082723
公開番号（公開出願番号）：特開平11-258177
出願日： 1998年03月13日
公開日（公表日）： 1999年09月24日
要約：
【要約】【目的】 既に設定されている検査用データ(基準パラメータ等)のうちの修正が必要なものを容易に発見できるようにする。【構成】 複数枚の基板についての検査結果を記憶しておき,集計した上で一覧表として表示する。
請求項（抜粋）：
部品が実装された検査対象を撮像して得られる画像に基づいて部品の実装状態を判定する検査装置において,部品の実装状態の検査に必要な基準情報を記憶した基準情報記憶手段,検査対象の部品を撮像して得られる画像に基づいて検査情報を作成する検査情報作成手段,上記検査情報作成手段によって作成された検査情報を上記基準情報記憶手段に記憶された基準情報と比較することにより部品の実装状態を判定する判定手段,複数の検査対象について得られた実装状態の判定結果を記憶する判定結果記憶手段,および上記判定結果記憶手段に判定結果が記憶された複数の検査対象について,部品と検査対象に区分して判定結果を出力する出力手段,を備えた検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/88 F
, H05K 13/08 P
