特許
J-GLOBAL ID：200903005469721270
測量システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
松浦 孝
, 小倉 洋樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-044035
公開番号（公開出願番号）：特開2004-085538
出願日： 2003年02月21日
公開日（公表日）： 2004年03月18日
要約：
【課題】測量機で得られる測量情報とカメラで得られる測量現場の画像情報とを簡便かつ効率的に関連付ける。【解決手段】デジタルスチルカメラ20により測量現場の概観画像を撮影する。概観画像上において3つの基準点P1、P2、P3を指定する。トータルステーション等の測量機10により基準点P1、P2、P3の位置を測量する。測量された基準点P1、P2、P3の実空間上の位置と、これらの基準点P1、P2、P3の概観画像上の位置とから、デジタルスチルカメラ20の測量機10に対する位置および傾きを求める。測量機10を用いて概観画像内の任意の測点Q1、Q2、Q3を測定する。デジタルスチルカメラ20の位置および傾きから測点Q1、Q2、Q3を概観画像上に表示するとともに、その対応を記録媒体に記録する。【選択図】 図3
請求項（抜粋）：
測点の測量情報が基準とする座標系と測点を含む測量現場の概観画像との間の位置関係を算出する位置関係算出手段と、
前記位置関係から、前記測点の測量情報と前記測点に対応する前記概観画像上の位置に関する位置情報とを対応付ける対応付け手段と
を備えることを特徴とする測量システム。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01C15/00 101
, G01C15/00 103D
