特許

J-GLOBAL ID：200903005491570293

電子部品の端子電極の良否判定装置

発明者： 三ツ村 修 ,  三上 薫 ,  山田 耕司 ,  白崎 武人
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社 ,  株式会社シー,アンド,エム ,  白崎 武人
代理人 (1件)： 宮井 暎夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-037742
公開番号（公開出願番号）：特開平6-249834
出願日： 1993年02月26日
公開日（公表日）： 1994年09月09日
要約：

【要約】【目的】 電子部品の整列を乱すことなく端子電極個々に良否判定が可能な電子部品の端子電極の良否判定装置を提供する。【構成】 磁性金属を被覆した端子電極13a,13bを有する電子部品を搬送する搬送手段15と、電子部品の搬送途上に設けられて磁性金属を磁化する磁石16と、電子部品の搬送途上に設けられて磁化された磁性金属の磁界を検知する磁気センサ18と、この磁気センサ18の出力信号を入力して良否を判定する判定手段19とを備えている。

請求項（抜粋）：

磁性金属を被覆した端子電極を有する電子部品を搬送する搬送手段と、前記電子部品の搬送途上に設けられて前記磁性金属を磁化する磁石と、前記電子部品の搬送途上に設けられて磁化された前記磁性金属の磁界を検知する磁気センサと、この磁気センサの出力信号を入力して良否を判定する判定手段とを備えた電子部品の端子電極の良否判定装置。

IPC (3件)：

G01N 27/72 ,  G01B 7/00 ,  G01R 31/00

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 特開昭60-239666
  
• 特開昭60-239666