特許
J-GLOBAL ID：200903005496253350
全反射吸収スペクトル測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
西岡 義明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-157751
公開番号（公開出願番号）：特開平7-012715
出願日： 1993年06月29日
公開日（公表日）： 1995年01月17日
要約：
【要約】【目的】 試料を切断したりせずにそのままの状態で、また試料を移動せずに現場においたままでもATR法による赤外吸収スペクトルを測定することができる全反射吸収スペクトル測定装置を提供することを目的としている。【構成】 赤外分光光度計からの赤外光を試料上の測定箇所に導き、試料からの反射光を再び赤外分光光度計に導くのを赤外光ファイバーで行わせると共に、赤外光ファイバーの一部を平面または僅かに湾曲した凸面に変形、加工し、赤外光ファイバー自体にATRプリズムの機能を持たせて赤外スペクトル測定ヘッドを構成したものである。
請求項（抜粋）：
赤外分光光度計からの赤外光を試料上に導き、試料からの反射光を再び赤外分光光度計に導いてその赤外吸収スペクトルを測定する装置において、前記赤外光及び反射光を赤外光ファイバーで導くと共に、赤外光ファイバーの一部を平面または僅かに湾曲した凸面に変形、加工し、赤外光ファイバー自体にATRプリズムの機能を持たせて赤外スペクトル測定ヘッドとしたことを特徴とする全反射吸収スペクトル測定装置。
IPC (2件)：
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