特許
J-GLOBAL ID：200903005522673487
反応パターンの判定方法及び反応パターン判定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中島 淳 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-183006
公開番号（公開出願番号）：特開平9-033441
出願日： 1995年07月19日
公開日（公表日）： 1997年02月07日
要約：
【要約】【課題】 凝集力の非常に弱い反応パターンについても高精度に判定する。【解決手段】 ウィンドウR12内の全階調値の平均値(しきい値)を算出し、算出したしきい値以上の階調値を1(白)、しきい値より小さい階調値を0(黒)と定義し、階調値が1と定義された画素の集まりの最大の連続領域R1の面積を算出する。最大の連続領域の面積と強凝集パタ-ン、弱凝集パタ-ン、及び非凝集パタ-ンの各々の判定基準値と比較して判定する。
請求項（抜粋）：
反応容器内に形成された検体粒子の反応パターンを表す画像を取り込み、取り込んだ画像を2値化して2値化画像を求め、求めた2値化画像内の同一の2値化値の画素が連続する最大の連続領域を抽出し、抽出した最大の連続領域の面積又は画素数及び前記最大の連続領域に内接する最大の矩形領域の面積又は画素数の少なくとも一方を特徴値として求め、求めた特徴値に基づいて前記検体粒子の凝集状態を判定する反応パターンの判定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 21/84 Z
, G01N 33/543
