特許
J-GLOBAL ID：200903005543217384
光合成サンプルの評価方法及び光合成サンプルの評価プログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
長谷川 芳樹
, 寺崎 史朗
, 石田 悟
, 諏澤 勇司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-301850
公開番号（公開出願番号）：特開2008-116401
出願日： 2006年11月07日
公開日（公表日）： 2008年05月22日
要約：
【課題】 評価試料に含まれる光合成サンプルの光合成機能を適切に評価すること。【解決手段】 評価試料を評価する場合、まず、光合成サンプルを含む評価試料に第1の励起光を第1の照射条件で照射する。続いて、評価試料に第2の励起光を第1の照射条件と比較して光エネルギー積算値が小さい第2の照射条件で照射する。続いて、評価試料から発生する遅延発光の発光量を測定する。最後に、測定ステップにおいて測定された発光量に基づいて評価値を導出し、評価値と標準データとに基づいて評価試料を評価する。このとき、第2の照射条件を変更して第1励起ステップ及び第2励起ステップの後の発光量を測定し、測定された発光量に対応する評価値と当該評価値に対応する標準データとに基づいて評価試料を評価する。【選択図】 図4
請求項（抜粋）：
光合成機能を有する光合成サンプルを含む評価試料を評価する光合成サンプルの評価方法であって、
前記評価試料に第1の励起光を所定の第1の照射条件で照射する第1励起ステップと、
前記第1励起ステップの後、前記評価試料に第2の励起光を前記第1の照射条件と比較して光エネルギー積算値が小さい第2の照射条件で照射する第2励起ステップと、
前記第2励起ステップの後、前記評価試料から発生する遅延発光の発光量を測定する測定ステップと、
前記測定ステップにおいて測定された遅延発光の発光量に基づいて評価値を導出し、前記評価値と標準データとに基づいて前記評価試料を評価する評価ステップとを備え、
前記測定ステップでは、前記第2の照射条件を変更して前記第1励起ステップ及び前記第2励起ステップの後の前記発光量を測定し、
前記評価ステップでは、前記測定ステップにおいて測定された発光量に対応する評価値と当該評価値に対応する標準データとに基づいて前記評価試料を評価することを特徴とする光合成サンプルの評価方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (9件)：
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043EA01
, 2G043FA03
, 2G043GA08
, 2G043GB21
, 2G043HA01
, 2G043KA08
, 2G043LA01
