特許

J-GLOBAL ID：200903005547061460

不良検出装置及び不良物除去装置

発明者： 園田 秀二 ,  池田 一繁 ,  鈴木 祐二 ,  山崎 祐一 ,  中尾 知功 ,  北野 紳一
出願人/特許権者： 株式会社クボタ
代理人 (1件)： 北村 修
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-048795
公開番号（公開出願番号）：特開平9-239330
出願日： 1996年03月06日
公開日（公表日）： 1997年09月16日
要約：

【要約】【課題】 検査対象物(穀粒群k)における正常な穀粒を不良の穀粒と適正に判別しながら、検査対象物に混入したガラス等の異物を穀粒群kと区別して的確に検出して、不良の穀粒や異物を正常な穀粒から分離して除去する。【解決手段】 所定経路に沿って移送されている検査対象物(穀粒群k)を照明手段4が照明した照明光が、穀粒群k及びその背部側に位置して穀粒群kと同じ反射率の基準面8aで反射した反射光が受光手段5Bにて受光され、その受光情報に基づいて穀粒の良否又は異物の存否が判別され、基準面8aに近接して位置して穀粒群kと異なる反射率の周辺面8bからの反射光が異物を経て受光手段5Bに入射しても正常な穀粒と区別され、その判別結果に従って不良物が正常な穀粒と異なる経路に分離されて除去される。

請求項（抜粋）：

穀粒群を検査対象物として穀粒の良否又は穀粒群内に混入している異物を検出する不良検出装置であって、検査対象物を照明する照明手段(4)と、その照明手段(4)からの照明光が検査対象物で反射した反射光を受光する受光手段(5B)と、その受光手段(5B)の受光情報に基づいて前記穀粒の良否又は前記異物の存否を判別する判別手段(100)とが設けられ、前記受光手段(5B)の受光方向であって前記検査対象物の背部側に検査対象物の反射率と同じ反射率の基準面(8a)が設けられ、その基準面(8a)に近接させて前記検査対象物の反射率と異なる反射率の周辺面(8b)が設けられている不良検出装置。

IPC (3件)：

B07C 5/342 ,  G01N 21/85 ,  G01N 33/02

FI (3件)：

B07C 5/342 ,  G01N 21/85 A ,  G01N 33/02