特許
J-GLOBAL ID:200903005575602590
多層型プリント配線基板
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
小池 晃 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-061874
公開番号(公開出願番号):特開2001-251061
出願日: 2000年03月02日
公開日(公表日): 2001年09月14日
要約:
【要約】【課題】 製造されたデータ伝送パターンのインピーダンスを正確且つ容易に測定する。【解決手段】 内層基板6,7上に設けられ、CPUモジュール2とメモリモジュール3との間のデータ伝送パターン4,5と、データ伝送パターン4,5と同層に設けられるインピーダンスの測定用パターン21,22と、測定用パターン21,22上に設けられるプリプレグ11と、プリプレグ11上に設けられ、測定用パターン21,22に電気的に接続され、プローブ40の信号端子41が接触される信号用ランド部23とプローブ40のGND端子42が接触されるGND用ランド部24とを備え、測定用パターン21,22は、パターン長がTDR装置に用いる際に最小限必要な長さである30mm以上で、パターン幅がデータ伝送用パターン4,5のパターン幅と同じとなるように形成される。
請求項(抜粋):
第1の絶縁層と、上記第1の絶縁層上に設けられ、CPUモジュールと上記CPUモジュールの主記憶用メモリモジュールとの間のデータ伝送を行うデータ伝送パターンと、上記データ伝送パターンと同層の上記第1の絶縁層上に設けられ、隣接する配線パターンと所定のクリアランスを介して設けられるインピーダンスの測定用パターンと、上記データ伝送パターン及び上記測定用パターン上に設けられる第2の絶縁層と、上記第2の絶縁層上に設けられ、上記第1の絶縁層上に設けられた上記測定用パターンに貫通孔により電気的に接続されて設けられ、上記測定用パターンのインピーダンスを測定するプローブの信号端子が接触される信号用ランド部と上記プローブのGND端子が接触されるGND用ランド部を備え、上記測定用パターンは、パターン長が略30mm以上で、パターン幅が上記データ伝送用パターンのパターン幅と同じとなるように形成されていることを特徴とする多層型プリント配線基板。
IPC (4件):
H05K 3/46
, G01R 1/06
, H05K 1/02
, H05K 1/11
FI (6件):
H05K 3/46 W
, H05K 3/46 N
, H05K 3/46 Z
, G01R 1/06 B
, H05K 1/02 J
, H05K 1/11 Z
Fターム (25件):
2G011AA13
, 2G011AE01
, 5E317AA24
, 5E317BB01
, 5E317BB11
, 5E317CC53
, 5E317CD29
, 5E317GG16
, 5E338AA02
, 5E338AA03
, 5E338BB25
, 5E338BB42
, 5E338CC02
, 5E338CC09
, 5E338CC10
, 5E338CD13
, 5E338CD23
, 5E338CD32
, 5E338EE11
, 5E338EE13
, 5E338EE31
, 5E346BB01
, 5E346BB16
, 5E346FF45
, 5E346GG32
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