特許
J-GLOBAL ID:200903005581267646

論理装置の検証方法および検証装置およびその検証方法を実行するプログラムを格納した記憶媒体ならびにそのプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 福井 國敞 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-127171
公開番号(公開出願番号):特開2002-324098
出願日: 2001年04月25日
公開日(公表日): 2002年11月08日
要約:
【要約】【課題】論理装置の検証方法及び検証装置ならびにその検証方法を実行するプログラムを格納した記憶媒体およびそのプログラムに関する。モデル検査により論理装置を検証することを目的とする。【解決手段】ハードウェア記述言語によって記述した論理装置の記述をもとにモデル検査をする論理装置の検証方法において,回路が満たさなければならない性質を表すプロパティに基づいてプロパティを満たさない状態集合を求め,プロパティを満たさない状態をもとにプロパティを満たさない状態に達する入力系列である反例を求める場合において,ハードウェア記述言語に含まれる条件判定式に関係する情報に基づいて反例を求める。
請求項(抜粋):
ハードウェア記述言語によって記述した論理装置の記述をもとにモデル検査をする論理装置の検証方法において,回路が満たさなければならない性質を表すプロパティに基づいてプロパティを満たさない状態集合を求め,プロパティを満たさない状態をもとにプロパティを満たさない状態に達する入力系列である反例を求める場合において,ハードウェア記述言語に含まれる条件判定式に関係する情報に基づいて反例を求めることを特徴とする論理装置の検証方法。
Fターム (3件):
5B046AA08 ,  5B046BA03 ,  5B046JA01
引用特許:
審査官引用 (2件)
引用文献:
審査官引用 (2件)
  • 機能合成システムにおける統合検証環境
  • 機能合成システムにおける統合検証環境

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