特許
J-GLOBAL ID:200903005651356650

超音波探傷における有害欠陥判定方法及びその判定結果の利用方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 藤本 昇 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-024447
公開番号(公開出願番号):特開2003-222617
出願日: 2002年01月31日
公開日(公表日): 2003年08月08日
要約:
【要約】【課題】 有害欠陥であるか否かの判定を容易に行ない得る超音波探傷における有害欠陥判定方法を提供する。【解決手段】 斜角探傷及び垂直探傷を共に実施し得る超音波探傷装置において、被検査材である鋼管の同一部位について、斜角探傷によって欠陥からの反射エコー強度を測定すると共に、垂直探傷によって被検査材の肉厚及び表面からの反射エコー強度の少なくともいずれか一方を測定し、前記斜角探傷による測定値が所定のしきい値を超えると共に、前記垂直探傷による測定値が所定のしきい値を超えた場合、前記部位に有害欠陥が存在すると判定する。
請求項(抜粋):
斜角探傷及び垂直探傷を共に実施し得る超音波探傷装置において、被検査材である鋼管の同一部位について、斜角探傷によって欠陥からの反射エコー強度を測定すると共に、垂直探傷によって被検査材の肉厚及び表面からの反射エコー強度の少なくともいずれか一方を測定し、前記斜角探傷による測定値が所定のしきい値を超えると共に、前記垂直探傷による測定値が所定のしきい値を超えた場合、前記部位に有害欠陥が存在すると判定することを特徴とする超音波探傷における有害欠陥判定方法。
Fターム (7件):
2G047AA07 ,  2G047BA03 ,  2G047BB01 ,  2G047BB02 ,  2G047BC03 ,  2G047EA10 ,  2G047GG06

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