特許
J-GLOBAL ID：200903005671633404
アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
山川 政樹
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-192785
公開番号（公開出願番号）：特開平5-273590
出願日： 1992年06月29日
公開日（公表日）： 1993年10月22日
要約：
【要約】【目的】 アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の欠陥を液晶パネルへの組立前に確実かつ迅速に発見できる検査方法を得る。【構成】 アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の上に微小な空間をおいて電気光学素子を置き、双方に電圧を加えて、画素電極と電気光学素子間の電場の違いによる電気光学素子の部分的な光学的性質の変化を観測する。
請求項（抜粋）：
基板上に形成された複数のゲート配線と複数のソース配線と複数の画素電極とを具備してなる薄膜トランジスタを有するアクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の検査方法において、電場を印加すると光学的性質が変化する電気光学素子を前記アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板上部に微小な空間をおいて配置し、前記アクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の画素電極に通電するとともに、電気光学素子上面の薄膜透明電極間に電圧を加えて電気光学素子と画素電極とに電場を作用させ、電気光学素子の光学的性質の部分的変化を検出することによりアクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の画素の良不良を検出することを特徴とするアクティブマトリックス液晶ディスプレイ基板の検査方法。
IPC (6件)：
G02F 1/136 500
, G01R 31/00
, G01R 31/02
, G01R 31/28
, G02F 1/13 101
, G02F 1/1333
