特許

J-GLOBAL ID：200903005694611378

皮膜中の3価クロムと6価クロムとの強度比の測定法

発明者： 吉川 幸宏
出願人/特許権者： 住友金属工業株式会社
代理人 (1件)： 伊澤 宏一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-350429
公開番号（公開出願番号）：特開平5-164710
出願日： 1991年12月11日
公開日（公表日）： 1993年06月29日
要約：

【要約】【構成】クロメート処理皮膜表面を真空中で機械的に研削した後、研削面を大気に触れさせることなく研削面にX線光電子分光法を施すことにより、クロメート皮膜中の3価クロムと6価クロムとの強度比を測定する。【効果】クロメート処理鋼材の表面および界面におけるクロムの化学状態をX線光電子分光法により正しく測定することができるので、クロメート処理鋼材の品質管理が適正に行われる。

請求項（抜粋）：

クロメート処理皮膜表面を真空中で機械的に研削した後、研削面を大気に触れさせることなく研削面にX線光電子分光法を施すことを特徴とする、クロメート処理皮膜中の3価クロムと6価クロムとの強度比の測定法。