特許
J-GLOBAL ID：200903005697926272

画像位置計測方法、画像位置計測装置および画像位置計測プログラム

発明者：
岡本 浩明

岡本 浩明 について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (1件)： 横山 淳一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-037856
公開番号（公開出願番号）：特開2007-219704
出願日： 2006年02月15日
公開日（公表日）： 2007年08月30日
要約：
【課題】本発明は、類似度分布が異方的な場合でも、計算を複雑化することなく、実時間での高速処理を行い、高精度な位置計測を実現する、サブピクセル精度の位置合わせ方法及び装置を提供する。【解決手段】入力された探索対象の画像データと、予め入力されている参照画像のテンプレートデータとの画像類似度を計算し類似度マップを作成する。ついで、前記類似度マップ上から検出された最大類似度のデータ点を中心にx,y軸について1次元的なピーク位置推定を行って、サブピクセル精度のピーク位置を一旦推定し、前記推定したサブピクセルのピーク位置を挟んで、隣接したx,y軸で各々同様の1次元的ピーク位置推定を行い、それらの推定結果を用いてピーク推定位置の補正を線形の内挿補間等により行い、画像位置を決定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
画像のマッチング度に基づいて対象物の位置を計測する画像位置計測方法であって、 予め用意された参照画像のテンプレートデータを入力するステップと、 探索対象の画像データを入力するステップと、 前記入力された探索対象の画像データと、前記参照画像のテンプレートデータとの画像類似度を計算し、類似度マップを作成するステップと、 前記類似度マップ上から検出された最大類似度データを中心とした3点から1次元的なピーク位置推定をx,y軸について行い、サブピクセル精度の位置を一旦推定するステップと、 前記推定したサブピクセルのピーク位置を挟んで、隣接したx,y軸で各々同様の1次元的ピーク位置推定を行い、それらの推定結果を用いてピーク推定位置の補正を行うステップと、 により、画像位置を決定する画像位置計測方法。
IPC (1件)：
G06T 7/00
FI (1件)：
G06T7/00 300D
Fターム (7件)：
5L096AA06 ,  5L096EA27 ,  5L096EA33 ,  5L096FA69 ,  5L096HA07 ,  5L096JA03 ,  5L096JA09
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (5件)
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