特許

J-GLOBAL ID：200903005735854710

光CT装置

発明者： 中井 達也
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 高梨 幸雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-275468
公開番号（公開出願番号）：特開平6-098890
出願日： 1992年09月18日
公開日（公表日）： 1994年04月12日
要約：

【要約】【目的】 散乱・吸収体の内部構造を、従来の直進光検出に代わり散乱光を検出して信号処理し、分析する光CT装置を得ること。【構成】 光散乱・吸収物体の内部構造を、物体を通過した光によって計測する光CT装置において、複数個の波長の異なる光を出すパルスレ-ザ光源と、該光源から物体に入射され通過した光を波長ごとに別々に検出する検出装置とを備え、検出装置によって検出される複数個の波長の時間分解強度信号を処理することにより、物体内部の構造を計測すること。

請求項（抜粋）：

光散乱・吸収物体の内部構造を、該物体を通過した光によって計測する光CT装置において、該装置は複数個の波長の異なる光を出すパルスレ-ザ光源と、該光源から該物体に入射され通過した光を前記複数個の波長ごとに別々に検出する検出装置とを備え、該検出装置によって検出される前記複数個の波長の時間分解強度信号を処理することにより、該物体内部の構造を計測することを特徴とする光CT装置。