特許
J-GLOBAL ID：200903005736937651
引張り試験方法及び引張り試験用帯体
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉井 昭栄 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-077488
公開番号（公開出願番号）：特開平9-264830
出願日： 1996年03月29日
公開日（公表日）： 1997年10月07日
要約：
【要約】【課題】 本発明は、細い被試験物を効率良く引張り試験する方法を提供するものである。【解決手段】 線状やフィルム状の被試験物1の両端に所定厚及び所定面積を有する帯体2を夫々固定し、この被試験物1が固定された帯体2夫々を引張り試験機の対向状態に配されたチャック部10,11に被試験物1とともに挾持させ、両チャック部10,11間の間隔を広げることで該被試験物1を引張り試験する方法である。
請求項（抜粋）：
線状やフィルム状の被試験物の両端に所定厚及び所定面積を有する帯体を夫々固定し、この被試験物が固定された帯体夫々を引張り試験機の対向状態に配されたチャック部に被試験物とともに挾持させ、両チャック部間の間隔を広げることで該被試験物を引張り試験することを特徴とする線状やフィルム状の被試験物の引張り試験方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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