特許
J-GLOBAL ID:200903005796564838

検査用画像処理装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 石川 泰男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-160760
公開番号(公開出願番号):特開平11-006712
出願日: 1997年06月18日
公開日(公表日): 1999年01月12日
要約:
【要約】【課題】 製品検査などに適用される画像処理において、安価で構築でき、かつ、高速にデータ解析が可能な検査用画像処理システムを提供する。【解決手段】 検査用画像処理装置において、製造ライン中を搬送される検査対象物の特性を示す画像の画像データを取り込む手段と、取り込まれた画像データ中における前記検査対象物の位置を検出する手段と、検出された前記位置に基づいて、前記検査対象物の特性を測定すべき測定点を決定する手段と、取り込まれた前記画像データに基づいて、前記測定点における前記検査対象物の特性を測定する手段と、測定された前記特性に基づいて、前記対象物の良否を判定する手段と、を備えるように構成する。
請求項(抜粋):
製造ライン中を搬送される検査対象物の特性を示す画像の画像データを取り込む手段と、取り込まれた画像データ中における前記検査対象物の位置を検出する手段と、検出された前記位置に基づいて、前記検査対象物の特性を測定すべき測定点を決定する手段と、取り込まれた前記画像データに基づいて、前記測定点における前記検査対象物の特性を測定する手段と、測定された前記特性に基づいて、前記対象物の良否を判定する手段と、を備える検査用画像処理装置。
IPC (3件):
G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G06T 7/00
FI (3件):
G01B 11/00 H ,  G01B 11/24 K ,  G06F 15/62 400

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