特許
J-GLOBAL ID:200903005820004121
研磨布および半導体装置の製造方法
発明者:
,
,
,
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (6件):
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 中村 誠
, 蔵田 昌俊
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-400915
公開番号(公開出願番号):特開2005-166766
出願日: 2003年11月28日
公開日(公表日): 2005年06月23日
要約:
【課題】 ドレッシング処理を施さずに、長い時間に亘って安定した研磨性能を発揮し得る研磨布を提供する。【解決手段】 化学機械研磨に用いられる研磨布であって、酸価が10〜100mgKOH/g、水酸基価が50〜150mgKOH/gである(メタ)アクリル共重合体からなる成形体を備えることを特徴とする。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
化学機械研磨に用いられる研磨布であって、酸価が10〜100mgKOH/g、水酸基価が50〜150mgKOH/gである(メタ)アクリル共重合体からなる成形体を備えることを特徴とする研磨布。
IPC (4件):
H01L21/304
, B24B37/00
, C08F220/06
, C08F220/26
FI (4件):
H01L21/304 622F
, B24B37/00 C
, C08F220/06
, C08F220/26
Fターム (13件):
3C058AA07
, 3C058AA09
, 3C058CA01
, 3C058CB03
, 3C058DA12
, 4J100AJ02P
, 4J100AL03R
, 4J100AL04R
, 4J100AL05R
, 4J100AL08Q
, 4J100BA03Q
, 4J100CA05
, 4J100JA28
引用特許:
前のページに戻る