特許
J-GLOBAL ID:200903005844440542

欠陥検査方法およびその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 青山 葆 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-274983
公開番号(公開出願番号):特開平8-136467
出願日: 1994年11月09日
公開日(公表日): 1996年05月31日
要約:
【要約】【目的】 画像処理技術を適用して欠陥検査を自動化するに際し、検査用照明光の照射などに起因して誤検知が発生することを防止する。【構成】 検査部5の樹脂ペレットに照明光を照射する光照射手段と、検査部上のペレットを撮像するカラーCCDカメラ7と、該カメラで得られた撮像画像に所定の画像処理を施す画像処理手段と、画像処理結果に基づいてペレットの欠陥を検出する欠陥検出手段とを備えてなる欠陥検査装置1であって、上記ペレットは不透明ペレットであり、一群のペレットを搬送路上に整列させて重なりを防止しつつ上記検査部上に送給するペレット送給装置2が設けられるとともに、検査部の底部が透明ガラス板42で形成されており、上記光照射手段は、上方からペレットに照明光を照射する上側照明ランプ6と、透明ガラス板の下方からペレットに照明光を照射する下側照明ランプとを備えていることを特徴とする。
請求項(抜粋):
検査部上の被検査物に照明光を照射しながら該被検査物を撮像して得られた撮像画像に所定の画像処理を施し、この画像処理結果に基づいて上記被検査物の欠陥を検出するようにした欠陥検査方法であって、上記被検査物は不透明な粒状体であり、一群の被検査物を搬送路上に整列させて重なりを防止しつつ上記検査部上に送給するとともに、上記検査部の底部を光透過性の有る底板で形成しておき、上記被検査物を撮像する際には、該被検査物の上方から照明光を照射すると同時に、上記底板の下方から被検査物に照明光を照射することを特徴とする欠陥検査方法。
IPC (4件):
G01N 21/88 ,  G01B 11/30 ,  G06T 7/00 ,  G06T 1/00
FI (3件):
G06F 15/62 400 ,  G06F 15/64 C ,  G06F 15/64 320 F
引用特許:
審査官引用 (4件)
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