特許
J-GLOBAL ID：200903005849382567
放射性汚染分布測定法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小泉 伸 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-210755
公開番号（公開出願番号）：特開平6-034761
出願日： 1992年07月15日
公開日（公表日）： 1994年02月10日
要約：
【要約】【目的】 比較的広範囲にわたる放射線汚染を、簡便な方法で、かつ、定量的に放射線汚染の測定を行い、必要に応じて放射線の種類の弁別を行うことを目的とする。【構成】 シンチレータシート(1A)を被測定物に密着貼付し、シンチレータシート(1A)を見込むように冷却CCDカメラ(2)を配置し、放射線によりシンチレータシート(1A)からの発せられる微弱光を冷却CCDカメラ(2)で撮像することにより放射性汚染の分布を測定し、放射線の汚染箇所を特定するために、シンチレータシート(1A)上にポジションマーカー(14)を設ける。放射線の種類を弁別するには、2枚のシンチレータシート(1A,1B)を順次重ねて放射線を測定する。
請求項（抜粋）：
放射線の吸収により発光する放射線検出シートを被測定物に密着貼付し、前記放射線検出シートを見込むように二次元光検出器を配置することにより放射性物質による汚染分布を測定することを特徴とする放射性汚染分布測定法。
IPC (2件)：
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