特許
J-GLOBAL ID：200903005855474945
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-131566
公開番号（公開出願番号）：特開平8-327885
出願日： 1995年05月30日
公開日（公表日）： 1996年12月13日
要約：
【要約】【目的】 常に高精度の測距を行うことができる測距装置を提供する。【構成】 アクティブ測距部Aでアクティブ測距を行い、パッシブ測距部Pでパシブ測距を行い、輝度判定部Lで輝度測定、温度判定部Tで周囲温度の測定を行い、夫々の測定結果が測距値選択回路22へ転送される。測距値選択回路22では、アクティブ測距部Aで計測された測距値に対応して、アクティブ測距部Aとパッシブ測距部Pの優位性を示す第1種の点数を設定すると共に、測定された輝度や周囲温度や被写体のコントラスト等の各種パラメータにそれぞれ対応して、アクティブ測距部Aとパッシブ測距部Pの優位性を表す第2種の点数を設定する。更に、アクティブ測距部Aについての第1種及び第2種の加算値と、パッシブ測距部Pについての第1種及び第2種の加算値とを、所定の判断アルゴリズムに基づいて比較し、何れの測距部による測距値が高精度かを判定して、その判断結果を出力する。
請求項（抜粋）：
被写体に向けて光を照射し、その反射光の受光位置に基づいて前記被写体までの距離を計測するアクティブ測距手段と、前記被写体で反射される自然光を2系統の受光部で受光し、各受光部より出力される各受光信号の位相差に基づいて前記被写体までの距離を計測するパッシブ測距手段と、前記アクティブ測距手段で計測される測距値に対応して、前記アクティブ測距手段と前記パッシブ測距手段の優位性を示す第1種の点数を設定すると共に、測距環境を表すパラメータに対応して前記アクティブ測距手段と前記パッシブ測距手段の優位性を示す第2種の点数を設定し、前記アクティブ測距手段の優位性を表す前記第1種と第2種の点数の加算値と前記パッシブ測距手段の優位性を表す前記第1種と第2種の点数の加算値とを比較することにより、前記アクティブ測距手段とパッシブ測距手段との何れの測距値が高精度かを判断する判断手段と、を具備する測距装置。
IPC (3件)：
G02B 7/28
, G01C 3/06
, G03B 13/36
G02B 7/11 N
, G01C 3/06 A
, G01C 3/06 V
, G03B 3/00 A
