特許
J-GLOBAL ID：200903005957283591
測距装置及び測距方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 正武 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-337519
公開番号（公開出願番号）：特開平11-173840
出願日： 1997年12月08日
公開日（公表日）： 1999年07月02日
要約：
【要約】【課題】 コストを掛けることなく種々の計測対象物の位置とその高さとを自動計測する。【解決手段】 校正尺と、該校正尺と計測対象物とを各々同時に撮影するように、校正尺から所定距離離れた位置かつ互いに所定間隔を隔てて水平面上に設けられた1対の撮影手段と、該撮影手段の各画像上における校正尺と計測対象物の各々の水平位置及び既知である前記各撮影手段と校正尺との位置関係に基づいて計測対象物の水平位置を算出する画像処理演算手段とを具備する。
請求項（抜粋）：
校正尺(4)と、該校正尺と計測対象物(A)とを各々同時に撮影するように、校正尺から所定距離離れた位置かつ互いに所定間隔を隔てて水平面上に設けられた1対の撮影手段(2A,2B)と、該撮影手段の各画像上における校正尺と計測対象物の各々の水平位置及び既知である前記各撮影手段と校正尺との位置関係に基づいて計測対象物の水平位置を算出する画像処理演算手段(5)と、を具備することを特徴とする測距装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01C 3/06 V
, G01B 11/00 H
