特許
J-GLOBAL ID：200903005974995627
偏光依存性測定方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
菅 隆彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-167885
公開番号（公開出願番号）：特開平6-011415
出願日： 1992年06月25日
公開日（公表日）： 1994年01月21日
要約：
【要約】【目的】光増幅伝送システム,光アイソレータ,光ファイバカプラ等の光デバイスにおいて、全ての偏光状態における被測定物の高精度な偏光依存性を測定する方法及び装置を提供する。【構成】光源手段1から出力された光信号S1を、偏光制御手段2により全ての偏光状態を作り出して回転させて、被測定物3を通過させ、当該被測定物3が存在する状態の信号光S2a′パワー変動P1分と被測定物3が存在しない状態の信号光S2bパワー変動P0分とを比較演算することにより、被測定物3以外の機器の偏光依存性の光パワー変動分を相殺P1-P0して、被測定物の偏光依存性P2を測定する方法及び装置である。
請求項（抜粋）：
光源からの光信号の偏光状態を任意の偏光状態に変換して回転し、当該回転している任意の偏光状態の光信号を測定対象に入力する測定用光信号と測定対象には入力しない参照用光信号とに分岐し、測定対象から出力された測定用光信号のパワー変動分と測定対象には入力しなかった参照用光信号のパワー変動分を比較演算して、測定対象以外の偏光依存性を相殺して測定対象の偏光依存性を測定することを特徴とする偏光依存性測定方法。
IPC (2件)：
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