特許
J-GLOBAL ID:200903005980189055
散乱ターゲット保持機構及び電子スピン分析器
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
杉村 暁秀 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-130224
公開番号(公開出願番号):特開2001-311702
出願日: 2000年04月28日
公開日(公表日): 2001年11月09日
要約:
【要約】【課題】 散乱ターゲットの交換を容易にする新規な散乱ターゲット保持機構を提供するとともに、この散乱ターゲット保持機構を具え、散乱ターゲットの交換を容易にした電子スピン分析器を提供する。【解決手段】 電子線スピン分析器を構成する散乱ターゲット5を加速電極2-1及び電極支持部3で形成される空間の外側から、導電性材料からなる散乱ターゲット保持部材6で保持する。そして、散乱ターゲット保持部材は絶縁性材料からなる絶縁支持部材で絶縁支持する。さらに、この絶縁支持部材の外周部を覆うように形成されたガイド部材8に沿って、散乱ターゲット5、散乱ターゲット支持部材6、及び絶縁支持部材7を一体的に着脱できるようにする。
請求項(抜粋):
散乱ターゲットを保持する導電性材料からなる散乱ターゲット保持部と、この散乱ターゲット保持部を絶縁支持する絶縁性材料からなる絶縁支持部と、前記散乱ターゲットを設置する所定の箇所に、前記散乱ターゲット保持部と前記絶縁支持部とを案内するガイド部とを具えることを特徴とする、散乱ターゲット保持機構。
Fターム (11件):
2G001AA03
, 2G001BA14
, 2G001CA03
, 2G001DA06
, 2G001GA01
, 2G001GA09
, 2G001GA11
, 2G001JA04
, 2G001JA14
, 2G001KA12
, 2G001SA01
引用特許:
出願人引用 (4件)
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電子スピン偏極度の計測方法及びその装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-179530
出願人:科学技術振興事業団
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特開昭63-284690
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特開昭60-105152
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特開昭60-017846
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審査官引用 (4件)