特許
J-GLOBAL ID：200903005987740350
スルーホールの孔詰まり検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 茂明 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-148448
公開番号（公開出願番号）：特開平5-322523
出願日： 1992年05月15日
公開日（公表日）： 1993年12月07日
要約：
【要約】【目的】 部品の挿入に支障のない程度に十分にスルーホールが明いているか否か等の微妙な判定を行う。【構成】 画像読取装置200、拡大回路300、OR回路101、論理回路103の働きにより、スルーホールに存在するバリ等の孔詰まりを表現する差分画像信号DIFSが得られる。2次元シフトレジスタ400及びオペレータ回路500の働きで、差分画像信号DIFSに所定の大きさのオペレータOPを作用させる。差分画像信号DIFSが値”1”を有する領域(画像エリアEI)がオペレータOPを包含する場合には孔詰まりに関して不良であると判定する。【効果】 オペレータの大きさを基準として、それ以上の大きさの孔詰まりがあるスルーホールを不良と判定するので、微妙な孔詰まりの判定が可能である。
請求項（抜粋）：
配線パターンとスルーホールを有するプリント基板の前記スルーホールの孔詰まりを検査する装置であって、(a)前記プリント基板の画像を読み取ることにより、前記配線パターンの画像に相当し2値情報を有するパターン画像信号と、前記スルーホールの画像に相当し2値情報を有するホール画像信号とを得る読取手段と、(b)前記パターン画像信号と前記ホール画像信号との論理和を演算して、当該論理和に相当する第1の画像信号を得る第1の演算手段と、(c)前記ホール画像信号を所定の画素数拡大した拡大ホール画像信号を得る拡大手段と、(d)前記第1の画像信号の反転信号と前記拡大ホール画像信号との論理積を演算して、当該論理積に相当する第2の画像信号を得る第2の演算手段と、(e)前記第2の画像信号を、所定の画素数の画素を含むオペレータと比較して、当該第2の画像信号が表現する画像エリアが当該オペレータを包含するときに、孔詰まりを示す判定信号を出力する判定手段と、を備えるスルーホールの孔詰まり検査装置。
IPC (3件)：
G01B 11/14
, G06F 15/62 405
, H05K 3/00
