インキ膜厚・含水率計測装置及びこれを備える印刷機並びにインキ膜厚・含水率計測方法

発明者： ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：真田有
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-101941
公開番号（公開出願番号）：特開2002-292832
出願日： 2001年03月30日
公開日（公表日）： 2002年10月09日
要約：

【要約】【課題】印刷機において、例えば近赤外線を多く吸収してしまう墨インキであっても、その膜厚と含水率とを一度に計測(同時計測)できるようにする。【解決手段】印刷機に備えられるインキ膜厚・含水率計測装置1であって、テラヘルツ電磁波を発生させ、インキ8に照射するテラヘルツ電磁波発生器2と、インキ8を通って反射したテラヘルツ電磁波を受信するテラヘルツ電磁波受信機3と、テラヘルツ電磁波発生器2によってインキに照射するテラヘルツ電磁波の強度と、テラヘルツ電磁波受信機3で受信したテラヘルツ電磁波の強度とに基づいてインキの膜厚と含水率とを求める演算処理部6とを備える。

請求項（抜粋）：

印刷機に備えられるインキ膜厚・含水率計測装置であって、テラヘルツ電磁波を発生させ、インキに照射するテラヘルツ電磁波発生器と、前記インキを通って反射したテラヘルツ電磁波を検出するテラヘルツ電磁波検出器と、前記テラヘルツ電磁波発生器によって前記インキに照射するテラヘルツ電磁波の強度と、前記テラヘルツ電磁波検出器で検出したテラヘルツ電磁波の強度とから求められるテラヘルツ電磁波の透過率に基づいて、前記インキの膜厚と含水率とを求める演算処理部とを備えることを特徴とする、インキ膜厚・含水率計測装置。

IPC (7件)：

B41F 33/14 , B41F 31/02 , B41F 33/10 , G01B 15/02 , G01N 21/35 , G01N 21/59 , G01B 7/06

FI (8件)：

B41F 33/10 S , G01B 15/02 Z , G01N 21/35 A , G01N 21/59 L , G01B 7/06 Z , B41F 33/14 Z , B41F 31/02 S , B41F 31/02 A

Fターム (36件)：

2C250EA06 , 2C250EA23 , 2C250EA26 , 2C250EA29 , 2C250EB18 , 2C250EB20 , 2F063AA16 , 2F063BD20 , 2F063DA01 , 2F063DB07 , 2F063DC08 , 2F063EA20 , 2F067AA27 , 2F067CC00 , 2F067GG06 , 2F067HH00 , 2F067KK06 , 2F067NN04 , 2F067PP13 , 2F067RR25 , 2F067RR28 , 2F067RR29 , 2G059AA01 , 2G059BB06 , 2G059BB20 , 2G059CC09 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE12 , 2G059GG01 , 2G059GG08 , 2G059HH01 , 2G059JJ01 , 2G059KK09 , 2G059MM01 , 2G059MM03

引用特許：

審査官引用 (2件)

特開昭61-148061
媒体情報検出装置、画像形成装置、媒体情報検出方法、画像形成方法、及び記憶媒体
公報種別：公開公報出願番号：特願平10-358401 出願人：キヤノン株式会社

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