特許

J-GLOBAL ID：200903006042953761

電子機器落下試験装置

発明者： 長谷部 光
出願人/特許権者： 埼玉日本電気株式会社
代理人 (1件)： 山下 穣平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-253051
公開番号（公開出願番号）：特開2000-081365
出願日： 1998年09月07日
公開日（公表日）： 2000年03月21日
要約：

【要約】【課題】 操作者の作業負担を軽減し、しかも、手動操作で実施できる電子機器落下試験装置を提供する。【解決手段】 ベース上に設けた滑車手段を介して、操作紐を、着座の操作者の手元から被試験電子機器の配置位置まで迂回・延設し、前記電子機器に対向する操作紐の端部に、前記電子機器を着脱可能に吊持ちする吊持ち手段を設けると共に、前記ベースには、前記吊持ち手段により前記電子機器を所定位置まで持ち上げた状態で、前記吊持ち手段の吊持ちを解除する解除手段を設けたことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

ベース上に設けた滑車手段を介して、操作紐を、着座の操作者の手元から被試験電子機器の配置位置まで迂回・延設し、前記電子機器に対向する操作紐の端部に、前記電子機器を着脱可能に吊持ちする吊持ち手段を設けると共に、前記ベースには、前記吊持ち手段により前記電子機器を所定位置まで持ち上げた状態で、前記吊持ち手段の吊持ちを解除する解除手段を設けたことを特徴とする電子機器落下試験装置。