計測装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：長谷川芳樹 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-208629
公開番号（公開出願番号）：特開平9-173324
出願日： 1996年08月07日
公開日（公表日）： 1997年07月08日
要約：

【要約】【課題】測定光波長の種類数に対する依存や測定光の発振周波数に対する制約を低減することにより、測定光の時間応答特性の計測時間を短縮化する計測装置を提供する。【解決手段】計測装置1は、相互に異なる複数の波長を有する測定光を発生することが可能な光源401 〜40n と、測定光を散乱吸収体10に入射するための照射用光ガイド50と、散乱吸収体10の内部を拡散伝搬した測定光の中から各波長を有する測定光を選択的に抽出することが可能な波長選択器ユニット90と、波長選択器ユニット90により抽出された測定光の時間応答特性を測定する光検出器ユニット100と、光源401 〜40n を駆動して測定光を相互に異なる発振タイミングで順次散乱吸収体10に入射させかつ光検出器ユニット100の測定動作を該発振タイミングに対応して制御して測定光の時間応答特性を順次測定させるとともに、光検出器ユニット100で測定された時間応答特性を解析して散乱吸収体10の内部情報を算出する信号処理系20,30,80,110〜150とを備える。

請求項（抜粋）：

相互に異なる複数の波長を有する測定光を発生することが可能な光源と、前記測定光を散乱吸収体に入射するための照射用光ガイドと、前記散乱吸収体の内部を拡散伝搬した前記測定光の中から各波長を有する測定光を選択的に抽出することが可能な波長選択器ユニットと、前記波長選択器ユニットにより抽出された前記測定光の時間応答特性を測定する光検出器ユニットと、前記光源を駆動して前記測定光を相互に異なる発振タイミングで順次前記散乱吸収体に入射させかつ前記光検出器ユニットの測定動作を該発振タイミングに対応して制御して該測定光の時間応答特性を順次測定させるとともに、前記光検出器ユニットで測定された時間応答特性を解析して前記散乱吸収体の内部情報を算出する信号処理系とを備える、散乱吸収体の内部情報の計測装置。

IPC (2件)：

A61B 5/14 310 , G01N 21/27

FI (2件)：

A61B 5/14 310 , G01N 21/27 B

引用特許：

出願人引用 (3件)

特開平3-136637
特開平4-191642
特開平4-332536

審査官引用 (3件)

特開平3-136637
特開平4-191642
特開平4-332536

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